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镀层检测

Fischer XDV-μ X射线荧光测厚仪‌

提供全面镀层检测服务，依据GB/T 16921、ISO 3497、ASTM B488等国际标准，精准测定‌镀层厚度、成分含量、结合强度、孔隙率、显微硬度‌等关键指标。覆盖电子、汽车、航空航天、五金卫浴等领域，出具CMA/CNAS资质报告，7-15个工作日高效交付

功能特点

规格参数

外形尺寸

典型型号‌

‌Fischer XDV-μ X射线荧光测厚仪‌（镀层厚度分析）
‌Hitachi SU5000 场发射扫描电镜‌（搭配EDS能谱仪，用于成分与截面分析）
‌Mitutoyo HM-220 显微硬度计‌（维氏硬度测试）
‌Taber 5135 耐磨试验机‌（结合强度与耐久性评估）
‌Q-FOG CRH 盐雾试验箱‌（耐腐蚀性能测试）

‌功能特点‌

支持‌单层/多层镀层‌结构检测，可区分金、银、镍、铜、铬、锌等金属镀层
采用‌X射线荧光法（XRF）‌ 无损测量，精度达±0.001μm，适用于PCB、连接器等精密部件
截面分析结合‌金相法+SEM/EDS线扫描‌，清晰呈现镀层与基材界面扩散情况
孔隙率检测符合ISO 14647标准，评估镀层致密性与抗腐蚀能力
可扩展‌高温氧化、循环盐雾、耐磨耗‌等环境适应性测试，模拟真实工况

项目	参数
镀层厚度范围	0.01–50 μm（XRF法）
测量精度	±5% 或 ±0.001 μm（高精度模式）
可测元素	从硫(S)到铀(U)，支持Au、Ag、Ni、Cu、Sn、Cr等金属
结合强度	划格法测试（ASTM B571），附着力等级0–5级
孔隙率分辨率	≤5 μm（硝酸蒸汽暴露法，ISO 14647）
显微硬度范围	50–300 HV（维氏硬度，GB/T 4340.1）
检测周期	7~15个工作日（可加急）
报告类型	CMA/CNAS认证报告（电子+纸质）